什么是双梳光谱？

 光学频率梳的纵向模式以非常精确的等间隔规则排列。纵模之间的间隔非常窄，为几十MHz，使用频谱分析仪等传统仪器无法分离和测量每个分量。然而，使用双梳光谱使之成为可能。当重复频率（f_1，f_2）略有不同的两个光频梳的光发生干涉时，会因频率差而产生“光拍”。测量光拍频的测量方法称为光外差法，双梳光谱法是在光频梳的所有光谱中同时进行光外差法的方法。这些光拍重叠的信号称为干涉图，它包含了两个光频率梳所拥有的所有波长分量的信号。通过对干涉图进行傅里叶变换，将其转化为频率信息，可以在单次测量中得到光频梳各频率分量的强度。