光学外差微振动测量装置
光学外差微振动测量装置
概述/规格
一种利用激光多普勒效应
测量微小振动的频率和振幅的装置。
响应频率
1~200MHz
最大测定速度
5m/秒
测量光斑
直径
约φ10μm
一种利用激光多普勒效应
测量微小振动的频率和振幅的装置。
响应频率 | 1~200MHz |
---|---|
最大测定速度 | 5m/秒 |
测量光斑 直径 |
约φ10μm |
特长/用途
高刚性外壳即使在桌面上也能精确测量 200MHz 振动
能够测量垂直(面外)振动和横向(面内)振动
易于操作的显微镜光学系统和直观的信号输出
可通过软件进行振动分析、动画等(可选)
MEMS器件、晶体谐振器、SAW器件等的振动分析
高刚性外壳即使在桌面上也能精确测量 200MHz 振动
能够测量垂直(面外)振动和横向(面内)振动
易于操作的显微镜光学系统和直观的信号输出
可通过软件进行振动分析、动画等(可选)
MEMS器件、晶体谐振器、SAW器件等的振动分析